Toggle navigation
科普中心
会员
中心
登录
注册
首页
文库
刊物
Molecular Markers for Leaf Rust Resistance Gene Lr45 in Wheat Based on AFLP Analysis
1474 阅读
0 评论
0 点赞
点赞(
0
)
打赏
本文分类:
刊物
本文标签:
wheat leaf rust
AFLP
Lr45
gene localization
浏览次数:
1474
次浏览
发布日期:2010-04-23 13:20:31
本文链接:
http://t.cric.cn/cms/journal/13253.html
上一篇 >
应用cDNA-AFLP研究甘蓝型油菜显性细胞核雄性不育差异表达基因
下一篇 >
苄嘧磺隆对蛋白核小球藻的生长效应研究
Asymmetric somatic hybridization between UV-irradiated Citrus unshiu and C. sinensis: regeneration and characterization of hybrid shoots
利用AFLP分子标记技术构建花莲核心种质资源
甘蓝抗枯萎病SCAR标记的开发
Identification and Molecular Tagging of Leaf Rust Resistance Gene (Lr24) in Wheat
评论列表
共有
0
条评论
评论功能已关闭
微信小程序
微信扫一扫体验
立即
投稿
微信公众账号
微信扫一扫加关注
返回
顶部